新的测针系统结合了坚固性和稳ding性。可变的测量力甚至允许您使用MarSurf CD测量从Rz 2μm起的粗糙度。较低的工件高度和集成的TY调节也可确保稳定的测量起点。因此，即使在接近生产环境时使用，MarSurf CD系列测量站也可提供可靠而准确的结果。0.75µm的低接触误差允许小的生产公差。
创新的技术：
快速测轴
X 方向定位速度高达 200 mm/s
是前代 MarSurf PCV 和 MarSurf CD 120 速度的 25 倍以上
此系列所有测量站都有全功能 CNC Z 轴
Z 轴速度约是 Mahr 旧型号 Z 轴的两倍
是市场上常见的 X 轴速度的 5 倍以上
高度灵活的智能测头系统
通过集成芯片识别测杆
标准测量范围高达 70 mm；490 mm 测杆时 100 mm
磁性测杆底板，更换测杆无需工具
测头系统耐用且灵活
可选：可以扩展粗糙度评定
创新的工件固定系统
安装板 390 x 430 mm，孔尺寸 50 mm
集成 60 mm TY 调整
安装板和集成 TY 调整的组合使您不再需要额外的 XY 工作台
较少的工件设置可实现较短的测量循环，因此带来良好的测量结果
其他专用仪器仪表