ProSp-RTM-UV/VIS全角度光谱测量系统,搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪,通过对入射和接收两臂的角度控制,实现材料任意角度的光谱测量。它可以在很多领域发挥作用,如微纳结构材料和器件、薄膜材料、滤光片、表面等离子体耦合共振器件、发光材料和器件、指纹按键器件等。ProSp-RTM-UV/VIS测量方式有:反射光谱测量(上反射和下反射)、透射光谱测量、辐射光谱测量和散射/荧光光谱测量。每种测量方式都由系统自动完成,我们仅需要选择测量方式、设置测量参数、调整样品位置即可。系统也支持手动测量方式,即我们可以把入射臂和接收臂,运行到任意的角度位置进行光谱测量。
功能描述:
全角度测量:接收端0-360度,发射端0-270度;
高角度分辨率:分辨率达0.01°;
全光谱测量:光谱范围250-2500nm,搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪;
不同测量模式:可以实现上反射、下反射、透射、散射、辐射等多种模式;
自动测量模式:通过软件设置(测量模式、接收角范围、入射角范围、角度分辨率、循环次数、积分时间等),实现不同模式的自动测量,中间不需要人为干预;
手动测量模式:可以任意控制样品台的入射角、接收角进行光谱测量;灵活的光源选择:自带钨灯光源和外接光源;
可扩展:可以在光路中增加滤波片、偏振片、波片等不改变光路的光学器件
应用领域:
微纳光学 材料学
生物技术 矿物分析
纸币防伪 LED光源
液晶显示 材料镀膜等